薄膜四探針方阻測試儀HPS58003是一款專門測(ce)(ce)量(liang)半導體(ti)薄(bo)(bo)層電(dian)(dian)阻(面電(dian)(dian)阻)的(de)方(fang)塊電(dian)(dian)阻測(ce)(ce)試儀配(pei)用的(de)四(si)探針測(ce)(ce)試探頭(tou)，可用于測(ce)(ce)量(liang)一般(ban)半導體(ti)材(cai)料(liao)、導電(dian)(dian)薄(bo)(bo)膜(mo)(ITO透明氧(yang)化膜(mo))，塑料(liao)薄(bo)(bo)膜(mo)、金屬薄(bo)(bo)膜(mo)、金屬鍍層等同類物質的(de)薄(bo)(bo)層電(dian)(dian)阻。

           帶彈簧測(ce)試探(tan)(tan)頭, 接觸可靠, 工(gong)作穩定(ding), . 使(shi)用時只要把探(tan)(tan)頭輕(qing)輕(qing)壓在(zai)被(bei)測(ce)鍍膜上面,   無(wu)需任何調節,新款方阻儀用5芯專用插(cha)座代(dai)替原有的(de)香(xiang)蕉插(cha)座，使(shi)得線(xian)纜不易折(zhe)損(sun)，探(tan)(tan)頭的(de)使(shi)用壽命極(ji)大延長。

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